Laboratory of Analytical Chemistry
Faculty of Education
Kochi University

高知大学　教育学部　分析化学研究室西脇研究室

教員紹介

西脇芳典

西脇芳典

経歴

平成10年3月東京理科大学理学部応用化学科　卒業
平成10年4月東京理科大学大学院理学研究科化学専攻修士課程　入学
平成12年3月東京理科大学大学院理学研究科化学専攻修士課程　修了
平成12年4月兵庫県警察本部刑事部科学捜査研究所　入所
平成19年4月東京理科大学大学院理学研究科化学専攻博士後期課程　入学
(科学捜査研究所に在籍しながら入学)
平成21年3月東京理科大学大学院理学研究科化学専攻博士後期課程　修了
(科学捜査研究所に在籍しながら卒業)
平成24年3月兵庫県警察本部刑事部科学捜査研究所　退所
平成24年4月高知大学教育研究部人文社会科学系教育学部門　講師
 令和元年10月  高知大学教育研究部人文社会科学系教育学部門　准教授
 令和4年4月  高知大学教育研究部人文社会科学系教育学部門　教授
現在に至る

受賞歴

平成16年3月社団法人電気化学会論文賞
平成19年5月財団法人ジェイ．ピー．ファミリー生きがい振興財団
科学捜査研究の部　最優秀論文賞
平成21年11月警察庁長官賞詞
平成22年1月社団法人日本分析化学会近畿支部近畿分析技術研究奨励賞
平成25年12月日本法科学技術学会奨励賞

主な研究業績

  1. T. Hashimoto, R. Hanajiri, N. Yasuda, Y. Nakamura, N. Mizuno, S. Honda, S. Hayakawa, Y. Nishiwaki, S. Kimura “Single crystal structure analysis of designer drugs circulating in the Japanese drug market by the synchrotron radiation x-ray diffraction”, Powder Diffraction, vol.32, 112-117 (2017).
  2. 西脇芳典, “科学捜査で役立つ学校で習う化学”, 化学と教育, 65巻10号、P.494-495, 2017.10（平29）.
  3. 西脇芳典，石井健太郎，蒲生啓司, “顕微鏡観察と金属イオンの系統分離を用いた自動車塗膜の理科教材への応用”, 化学と教育65巻12号、P.646-647, 2017.12（平29）.
  4. T. Hashimoto, S. Honda, N. Yasuda, S. Kimura, S. Hayakawa, Y. Nishiwaki, M. Takata, “Singleparticle/Single-crystal structure analysis of drug powder sample by synchrotron radiation microbeam X-ray”, Adv. X-ray Anal., 59, 169-175 (2016).
  5. 西脇芳典, 石井健太郎, 竹川知宏, 蒲生啓司, “放射光蛍光X線分析によるポリエステル白色単繊維の非破壊異同識別”, 日本法科学技術学会誌, 21, 67-73 (2016).
  6. 竹川知宏, 石井健太郎, 西脇芳典, 蒲生啓司, “放射光蛍光X線分析を用いる自動車アルミホイール片の非破壊異同識別”, 分析化学, 64, 625-630 (2015).
  7. 石井健太郎, 竹川知宏, 大前義仁, 西脇芳典, 蒲生啓司, “放射光蛍光X線分析を用いた白色自動車ベースコート塗膜片の異同識別” 分析化学, 64, 867-874 (2015).
  8. 牧野泰希，吉岡剛志，百崎賢二郎，辻笑子，野口直樹，西脇芳典，橋本敬，本多定男，二宮利男，藤原明比古，高田昌樹，早川慎二郎” SDD用真空コリメーターの開発と大気中での軽元素蛍光X線分析”X線分析の進歩45，317-325　(2014).
  9. K. Nakano, C. Nishi, K. Otsuki, Y. Nishiwaki, K. Tsuji ”Depth elemental imaging of forensic samples by confocal micro-XRF method” Analytical chemistry, 83, 3477-3483 (2011)．
  10. I. Nakai, Y. Ono, Q. Li, Y. Nishiwaki, K. Tanaka, S. Nakayama ”Capability of a TES microcalorimeter SEM-EDS system for forensic analysis of automotive paint and gunshot residue” Surface and Interface Analysis, 42, 402-410, (2010).
  11. 西脇芳典 ”遺留物の起源を探る” 化学と教育, 58巻2号 P.74-77 (2010).
  12. Y. Nishiwaki, S. Watanabe, O. Shimoda, Y. Saito, T. Nakanishi, Y. Terada, T. Ninomiya, I. Nakai ”Trace elemental analysis of titanium dioxide pigments and automotive white paint fragments for forensic examination using high-energy synchrotron radiation x-ray fluorescence spectrometry” Journal of Forensic Sciences, 54，564-570，(2009).
  13. T. Nakanishi, Y. Nishiwaki, N. Miyamoto, O. Shimoda, S. Watanabe, S. Muratsu, M. Takatsu, Y. Terada, Y. Suzuki “Lower limits of detection of synchrotron radiation high-energy x-ray fluorescence spectrometry and its possibility for the forensic application for discrimination of glass fragments” Forensic Sci. Int., Vol. 175, P.227-234 (2008).
  14. 西脇芳典，高津正久, 宮本直樹, 渡邊誠也，下田修，村津晴司, 中西俊雄, 中井泉 “高エネルギー放射光蛍光X線法による科学捜査のための自動車ガラスセラミックプリントの微量成分分析” 分析化学, 56巻12号 P.1045-1052 (2007).
  15. 高津正久, 宮本直樹, 村津晴司, 福井貞夫, 西脇芳典 ”放射光X線回折法によるメタンフェタミン塩酸塩粉末中の微量不純物分析” 日本法科学技術学会誌, 12巻2号 P.217-222 (2007).
  16. Y. Nishiwaki, T. Nakanishi, Y. Terada, T. Ninomiya, I. Nakai “Nondestructive discrimination of small glass fragments for forensic examination using high energy synchrotron radiation x-ray fluorescence spectrometry” X-ray spectrometry, 35, 195-199, (2006).
  17. Y. Nishiwaki, M. Shimoyama, T. Nakanishi,T. Ninomiya, I. Nakai “Application of total reflection x-ray fluorescence spectrometry to small glass fragments” Anal. Sci., Vol. 22, P.1297-1300 (2006).
  18. M. Kasamatsu, Y. Suzuki, T. Nakanishi, O. Shimoda, Y. Nishiwaki, N. Miyamoto, S. Suzuki “Nondestructive analysis of silver in gold foil using synchrotron radiation x-ray fluorescence spectrometry” Analytical sciences, 21, 785-787, (2005).
  19. 西脇芳典，寺田靖子，中井泉 “リチウムマンガンスピネル正極材の高温劣化挙動のin situ TXRF-XAFS解析” 電気化学および工業物理化学, 71巻3号 P.163-168, (2003).
  20. Y. Terada, Y. Nishiwaki, I. Nakai, F. Nishikawa ”Study of Mn dissolution from LiMn2O4 spinel electrodes using in situ total reflection x-ray fluorescence analysis and fluorescence XAFS technique” J. Power Sources, Vol.97-98, P.420-422 (2001).
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